四探針電阻率測定儀用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。

四探針電阻率測試儀 四探針電阻率儀 方阻測試儀 方阻儀 四探針電阻率測定儀（自動測試臺+帶軟件）

四探針電阻率測試儀 四探針電阻率儀 型號：TR-KDY-1

四探針電阻率測試儀 四探針電阻率儀 方阻測試儀 方阻儀 四探針電阻率測定儀（自動測試臺+帶軟件）

產品編號：TC-004959

四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些箔層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護箔膜。儀器配置了本公司的產品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機如加配HQ-710E數據處理器，測量硅片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的zui大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習庋。給測量帶來很大方便。
2、主機技術能數
（1）測量范圍：
可測電阻率：0.0001～19000Ω•cm
可測方塊電阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續可調
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
輸出電源：≥1000ΩM
（4）供電電源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用環境：
溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65%
無較強的電場干擾，無強光直接照射
（6）重量、體積：
主機重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×高度）

備注：
等級測量時（測電阻率），精度<3%
電氣測量時（測電阻），精度在0.3%以內

備注：
儀器包括：主機一臺；測試架（包括臺面）一個；四探針頭1個；軟件

產品名稱：熱膨脹系數儀 熱膨脹儀 產品型號：PCY-1200 熱膨脹系數儀 熱膨脹儀 型號：PCY-1200  一、概述：  PCY系列熱膨脹儀用于檢測固體無機材料、金屬材料的高溫膨脹性能，特別是剛玉、耐火材料、精鑄用型殼及型芯材料、陶瓷、陶瓷原料、瓷泥、釉料、玻璃、石墨、炭素等無機(有機)材料、金屬制品,高分子材料的性能，為科研、教學提供*的測試手段。通過本儀可完成試樣線變量、線膨脹系數、體膨脹系數、急熱膨脹、軟化溫度、燒結的動力學研究、玻璃化轉變溫度、相轉變、密度變化、燒結速率控制（RCS）以及它們變化曲線。也可根椐用戶要求對試樣進行氣氛保護，可抽真空，真空度0.1MPa。   PCY熱膨脹儀也適用于GB/T3810.8-2006對陶瓷磚線性熱膨脹的測定,GB/T16920-1997對玻璃平均線熱膨脹系數的測定,GB/T3074（1）.4-2003對石墨電熱膨脹系數的測定,GB/T 7320-87《耐火制品熱膨脹試驗方法》,也*食品藥監局藥包材YBB00282002【線熱膨脹系數檢測】。   二、主要技術參數：  1、高爐溫：1200℃，1400℃，1700℃由客戶自選。   2、升溫速度：0-100度/分可調，電腦程序控溫。   3、計算機自動計算膨脹系數、體膨脹系數、線膨脹量,急熱膨脹。   4、自動計算補償系數并自動補償，也可人工修正（在線）。   5、自動記錄、存儲、打印數椐，打印溫度-膨脹系數曲線。   溫度間距自由設定，小間距1℃。   6、膨脹值測量范圍：±5mm。   7、測量膨脹值分辨率：0.1-1um，自動校正量程。   8、試樣范圍（2-15）×（2-15）×（20-150）mm,方形/園形均可。   9、采用進口直線軸承傳動，實現膨脹值無磨擦傳遞，傳動精度及重復性好。   10、系統測量誤差：±0.1-0.5%。   11、電源電壓：220V±10﹪，2KW。   12、儀器配有標準計算機接口，可與通用計算機相聯，所有試驗操作均計算機界面完成，操作方便易學并提供全套軟件。   ( 配有炭素行業檢測軟件)