半導體激光塵埃粒子計數器 CLJ-D
該系列的技術指標均滿足計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。

半導體激光塵埃粒子計數器 CLJ-D

 
該系列儀器的技術指標均滿足計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況，對于研究、檢測和評價各種潔凈環境都十分方便。該系列儀器性能設計良好、質量穩定可靠

半導體激光塵埃粒子計數器 CLJ-D

 
　　該系列產品已被廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現場檢測、撿漏；可監測凈工作臺、生物安全柜，HVAC系統，計算機室、飲料包裝環境，醫療器械生產環境，醫院潔凈手術室，汽車噴涂環境微電子、制藥、生化制品、食品衛生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門，是制藥企業及其監督管理部門貫徹GMP規范及電子生產企業的 儀器。 北京同德創業  專業鑄造品質

      
  
主要技術參數及性能：

質 
1.光源: 全半導體 激光光源 
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min) 
3.檢測范圍: 100級～100萬級  
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L 
5.粒徑通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六檔 
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。 
7.采樣周期: 1～10 (min) 
8.自凈時間: ≤15 (min) 
9.校準：可追溯美國標準技術協會（NIST），我公司已通過計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方計量機構進行校準 
10.工作環境: 溫度:10～35℃    相對溫度: 20～75%RH 
11.功耗: 25W 
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購） 
（1）         溫度：0～50℃±1℃ 
（2）         濕度：0～100%RH±5% 
13.采樣點數   2～7點設定 
14.每點采樣次數   2～9次設定 
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準 
16.工作時間：8 小時 
17.電源： AC220V±10%    50±2Hz 
18.重量:4.8kg 
19.外形尺寸: 260×130×340 
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。 
21.備注: 內置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架

產品名稱：金相圖像分析儀 產品型號：MS-60

金相圖像分析儀型號：MS-60

主要特點: 
1、國外進口外殼采用烤漆，檔次高，豐滿度好、光澤高，抗劃傷能力強，使用多年，依然光亮如新； 
2、操作面板采用菜單式結構，簡潔明了； 
3、實時顯示材料硬度值以及各種換算硬度值，對角線長度，試驗力，保荷時間，測量次數，環境溫度，測試Z高值，測試Z低值，平均值，重復性等； 
4、手動控制升降平臺； 
5、由我所高級光學工程師設計的光學系統，視場清晰，方便測量； 
6、根據不同操作人員的視覺習慣，可調節測量光源的強弱，避免了長時間操作的視覺疲勞； 
  
  
技術參數: 
1檢測范圍1um —1cm； 
2成像分辨率2048*1536（300萬像素數碼攝像頭）