MOC-Ⅱ 廠家 光纖干涉馬赫-曾德爾干涉儀

光纖干涉馬赫-曾德爾干涉儀 型號：MOC-Ⅱ

一、實驗簡介
       光學干涉測量，如用鈉光測量凸透鏡曲率半徑，用邁克爾遜干涉儀測量位移等，很久以來都是理工類大學物理實驗的重要內容。然而，那些把空氣作為介質的激光干涉裝置，存在著致命的缺陷,那就是溫度的不均勻﹑振動﹑空氣中水分含量等使這些激光干涉裝置在工程應用中受到限制。而光纖干涉測量裝置則耐振動﹑不怕電磁干擾﹑可在較高溫度環境下工作。
二、實驗內容
       1、熟悉光纖馬赫—曾德爾干涉儀的工作原理，并通過自己搭建光路，掌握馬赫—曾德爾干涉儀光路的調整方法。
       2、觀察雙光束干涉現象。
       3、將光纖分別用在壓力、位移、溫度場內，觀察干涉條紋變化。
三、儀器配置及技術參數
       1、外接電源：220V，50Hz;
       2、溫度傳感：1）、溫度范圍：室溫到高于室溫20℃左右；
                           2）、靈敏度：干涉儀為10～20條/℃；
       3、位移傳感：1）測量范圍：0到1.0mm；2）、靈敏度：1條/0.00065mm
       4、壓力傳感：1）、測量范圍：1大氣壓～2大氣壓；
                           2）、靈敏度：干涉儀為200條左右/KPA；
       5、光源和光纖：1）、650nm激光器，出纖功率大于2mW。
                              2）、分路器：650nm單模2×2分路器，分束比1:1。
                              3）、650nm單模光纖尺寸：芯直徑小于4μm；包層直徑：125μm；保護層直
                              徑：3mm
       6、導軌：500mm